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Non-destructive and Accurate Film Thickness Measurement with Fiber Optic Spectrometer

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Misurazione non distruttiva e precisa dello spessore della pellicola con spettrometro a fibra ottica

Quantità di ordine minimo :	1	Prezzo :	Negoziabile
Imballaggi particolari :	International Shipping Pakcage	Tempi di consegna :	90-120 giorni lavorativi
Termini di pagamento :	T/T, Western Union	Capacità di alimentazione :	100PCS/90-120 giorni

Luogo di origine:	Cina	Marca:	JINSP
Certificazione:	ISO9001	Numero di modello:	SR100Q
Documento:	Brochure del prodotto PDF

Informazioni dettagliate
Distanza spettrale:	200 nm - 1100 nm	Pixel efficaci:	1024*122
Qutuam efficienza:	QE92% peak@650nm, 83%@232nm	SNR:	1000:1

Descrizione di prodotto

92% Spettometro quantistico elevato perMisurazione dello spessore della pellicola

Il monitoraggio dello spessore della pellicola sottile costituisce la spina dorsale del controllo della qualità nella produzione di semiconduttori e display.Gli strumenti fotoelettrici forniscono la soluzione ideale combinando precisione e conservazione di strati delicatiAttraverso la diagnostica ottica intelligente, le industrie acquisiscono strumenti per il continuo perfezionamento dei processi e per sviluppi rivoluzionari.

Lo spettrometro JINSP SR100Q è integrato con l'Hamamatsu S7031, un chip CCD ad area raffreddata TE di livello scientifico.Con una dimensione di pixel fino a 24*24μm e un'eccellente efficienza quantistica fino al 92%, garantisce un'elevata risposta nella banda ultravioletta e migliora efficacemente la sensibilità e la SNR dei segnali deboli.e prestazioni stabili e affidabili basate sul percorso luminoso avanzato ad alta risoluzione e basso rumore, chip di elaborazione del segnale FPGA ad alta velocità.

Parametri del prodotto:

Dectore	Tipo di chip	Hamamatsu S7031 con retroilluminazione e raffreddamento TE
	Pixel effettivi	1024*122
	Dimensione dei pixel	24*24 μm
	Area di rilevamento	24.576*2.928 mm
Optico Parametri	Progettazione ottica	F/4 tipo croce
	Apertura numerica	0.13
	Distanza focale	100 mm
	Larghezza della fessura di ingresso	10 μm, 25 μm, 50 μm, 100 μm, 200 μm (personalizzabile)
	Interfaccia a fibra	SMA905, spazio libero.
Altri dispositivi Parametri	Tempo di integrazione	8ms-3600s
	Interfaccia di uscita dei dati	USB3.0, connettore RS232, RS485, 20 pin
	Profondità di bit ADC	16 bit
	Fornitore di energia	5V
	Corrente di funzionamento	< 3,5A
Fisica Parametri	Temperatura di funzionamento	10°C~40°C
	Temperatura di conservazione	-20°C~60°C
	Umidità di funzionamento	< 90%RH (senza condensazione)
	Dimensioni	180 mm120 mm50 mm
	Peso	1.2 kg

Elenco dei modelli di prodotto:

Modello	Distanza spettrale (nm)	Risoluzione ((nm)	Slit ((μm)
SR100Q-G21 SR100Q-G22	200-950 350~1100	6.8	200
		2.2	50
		1.5	25
		1.0	10
SR100Q-G23 SR100Q-G24	200 ~ 775 350-925	1.6	50
		1.0	25
		0.7	10
SR100Q-G25	532~690 ((4400cm-1)	13 cm-1	50
SR100Q-G26	638~800 ((3200cm-1) *	10 cm-1	25
SR100Q-G27	785~1050 ((3200cm-1) *	11 cm-1	50

**Nota: I * sono progettati principalmente per applicazioni Raman, con il corrispondente Raman.**

Caratteristiche tecniche:

Alta efficienza quantistica, 92% picco @ 650nm, 83% @ 232nm
SNR elevato: rumore scuro ultra basso in condizioni di lungo tempo di integrazione, SNR fino a 1000:1

Processo trasparente senza rumore di segnale debole in presenza di una lunga esposizione, forte adattamento all'ambiente
Circuito a basso rumore e ad alta velocità: USB3.0

Metodo di misurazione:

La luce incidente della sonda di fibra si riflette sulle superfici superiore e inferiore del film, generando fasci di interferenza.che consente il calcolo dello spessore (d) mediante il metodo dell'estrema (θ), n, e dati di picco/basso). Spessore maggiore stringe la spaziatura delle frange, mentre lunghezze d'onda più lunghe lo espandono. Misure precise richiedono impostazioni spettrali ottimizzate.

Misurazione non distruttiva e precisa dello spessore della pellicola con spettrometro a fibra ottica 0

Applicazioni tipiche:

Detezione di assorbimento, trasmissione e riflessione Spettro
Caratterizzazione della sorgente luminosa e della lunghezza d'onda del laser
Modulo di prodotto OEM: spettro fluorescente, spettro Raman, ecc.

Misurazione non distruttiva e precisa dello spessore della pellicola con spettrometro a fibra ottica 1

Misurazione non distruttiva e precisa dello spessore della pellicola con spettrometro a fibra ottica 2

Introduzione alla Società:

JINSP Company Limited, abbreviata come "JINSP", è un fornitore professionale con oltre 17 anni di esperienza nei prodotti di tecnologia di rilevamento spettrale, tra cui tecnologie Raman, FT-IR, LIBS, ecc.Dopo 17 anni di accumulazione di tecnologia, le tecnologie chiave di base dell'azienda hanno raggiunto la posizione di leader a livello internazionale e il numero cumulativo di domande di brevetto ha superato 200.

Oltre alla sua sede principale situata nella vivace città di Pechino, la JINSP ha stabilito un stabilimento di produzione di sussidiariità interamente di sua proprietà situato nella provincia cinese del Jiangsu.

La società JINSP ha ricevuto ISO9001:2015, ISO14001:2015JINSP può fornire le certificazioni richieste, come la certificazione del Ministero della pubblica sicurezza o dell'Istituto nazionale di metrologia,Certificazione del livello ambientale, Certificazione di livello IP, Certificazione CE, Rapporto di identificazione del trasporto, Certificazione ECAC UE, Test di sicurezza TIC tedeschi, ecc..

Domande frequenti

Q1: Questa è la prima volta che uso, è facile da usare?

R1: Vi invieremo un manuale e una guida video in inglese, che vi insegnerà come usare lo spettrometro.

D2: Può offrire un'operazione di formazione?
A2: I vostri tecnici possono venire alla nostra fabbrica per una formazione.
(installazione, formazione, debug, manutenzione).

D3: Qual è il tuo sito web?
A3:Puoi visitare: www.jinsptech.com

Q4: Che dire della garanzia di qualità?

A4: Abbiamo un team di ispezione di qualità. Tutte le merci passeranno attraverso l'ispezione di qualità prima della spedizione. Possiamo inviare le foto per l'ispezione.

Prodotto Tag:

Spettometro Raman portatile(89)

analizzatore di gas raman(29)

Strumenti di processo per analizzatori Raman(35)

Spectrometro CMOS compatto(49)

Spettometro a fibra ottica(53)

Spettometro a infrarosso vicino(28)

Spettometro Raman modulare(31)

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Profilizzatore di fascio CMOS(8)

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Sonda Raman e cella di flusso(8)

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